Titre :

Thermally detected optical absorption, reflectance and photo-reflectance of In(As,P)/InP quantum wells grown by gas source molecular beam epitaxy

Auteur(s) :

Disseix, Pierre [Auteur]
Payen, C. [Auteur]
Leymarie, Joël [Auteur]
Vasson, Aime [Auteur]
Mollot, F. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

European Materials Society Spring Meeting, Symposium G, Optoelectronics I: Materials and Technologies for Optoelectronic Devices

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2001

Titre de l’ouvrage :

Optical Materials, 17

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2001

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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