Raman spectroscopy characterization of ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Raman spectroscopy characterization of single Si-nanowires
Auteur(s) :
Marczak, M. [Auteur]
Jastrzebski, C. [Auteur]
Gebricki, W. [Auteur]
Zdrojek, M. [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Jastrzebski, C. [Auteur]
Gebricki, W. [Auteur]
Zdrojek, M. [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
6th International Conference on Materials for Microelectronics and Nanoengineering, MFMN 2006
Ville :
Cranfield
Pays :
Royaume-Uni
Date de début de la manifestation scientifique :
2006
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :