Raman spectroscopy characterization of ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Raman spectroscopy characterization of single Si-nanowires
Author(s) :
Marczak, M. [Auteur]
Jastrzebski, C. [Auteur]
Gebricki, W. [Auteur]
Zdrojek, M. [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Jastrzebski, C. [Auteur]
Gebricki, W. [Auteur]
Zdrojek, M. [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
6th International Conference on Materials for Microelectronics and Nanoengineering, MFMN 2006
City :
Cranfield
Country :
Royaume-Uni
Start date of the conference :
2006
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :