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Electro-optical probe dedicated to the ...
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Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Electro-optical probe dedicated to the on-line testing of electronic systems
Auteur(s) :
Pannetier, B. [Auteur]
Lemaitre-Auger, P. [Auteur]
Tedjini, S. [Auteur]
Dogheche, El Hadj [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur] refId
Date de début de la manifestation scientifique :
2003
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 2003 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe, CLEO/Europe 2003
Éditeur :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Date de publication :
2003
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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