Titre :

Spatial mapping of electroluminescence due to impact ionization effect in high electron mobility transistors

Auteur(s) :

Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Boudart, B. [Auteur]
Dhamlincourt, P.A. [Auteur]

Titre de la revue :

Applied Spectroscopy

Pagination :

1423-1428

Éditeur :

Society for Applied Spectroscopy

Date de publication :

2000

ISSN :

0003-7028

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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