Comparison of microwave performances for ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs
Auteur(s) :
Goffioul, M. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vanhoenacker, D. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vanhoenacker, D. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Proceedings of the 5th Symposium on Diagnostics and Yield : SOI-Materials, Devices and Characterization, D&Y'2000
Ville :
Warsaw
Pays :
Pologne
Date de début de la manifestation scientifique :
2000
Date de publication :
2000
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :