Titre :

2D-hydrodynamic energy model including breakdown phenomenon for power field effect transistor

Auteur(s) :

Rousseau, Michel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]

Titre de la revue :

VLSI Systems Design

Pagination :

323-328

Date de publication :

2001

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL