Etude par microscopie à effet tunnel de ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Etude par microscopie à effet tunnel de la passivation hydrogène des dopants silicium dans GaAs
Author(s) :
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Silvestre, S. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Bernard, Dorothee [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Constant, E. [Auteur]
Chevallier, Jacques [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Silvestre, S. [Auteur]
Nys, J.P. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Bernard, Dorothee [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Constant, E. [Auteur]
Chevallier, Jacques [Auteur]
Conference title :
Forum des microscopies à sonde locale
City :
Marseille
Country :
France
Start date of the conference :
2001
Publication date :
2001
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :