Titre :

Contribution à la caractérisation non destructive d'objets enfouis par des techniques micro-ondes

Auteur(s) :

Achrait-Furlan, Latifa [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Date de publication :

2002

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Français

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL