Title :

Behaviour of TFMS and CPW line on SOI substrate versus high temperature for RF applications

Author(s) :

Si Moussa, M. [Auteur]
Pavageau, C. [Auteur]
Lederer, D. [Auteur]
Picheta, L. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fel, N. [Auteur]
Russat, J. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Vanhoenacker-Janvier, D. [Auteur]

Journal title :

Solid-State Electronics

Pages :

1822-1827

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2006

ISSN :

0038-1101

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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