Etude physique du phénomène de claquage ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Etude physique du phénomène de claquage par avalanche dans les transistors à effet de champ
Auteur(s) :
Elkhou, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rousseau, Michel [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur] refId
Date de début de la manifestation scientifique :
2003
Titre de l’ouvrage :
Actes des 13èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2003
Éditeur :
Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq, France
Date de publication :
2003
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
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