Titre :

Wave-mechanical calculations of leakage current through stacked dielectrics for nanotransistor Metal-Oxide-Semiconductor design

Auteur(s) :

Le Roy, M. [Auteur]
Lheurette, Eric [Auteur]
Vanbesien, Olivier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, D. [Auteur]

Titre de la revue :

Journal of Applied Physics

Pagination :

2966-2971

Éditeur :

American Institute of Physics

Date de publication :

2003

ISSN :

0021-8979

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL