Title :

Caractérisation non destructive d'un profil d'humidité à 2.45 GHz et technique de déconvolution aveugle associée

Author(s) :

Glay, David [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]

Start date of the conference :

2003

Book title :

Actes des 13èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2003

Publisher :

Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq, France

Publication date :

2003

Language :

Français

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL