Titre :

Nondestructive defects detection inside dielectric materials by microwave techniques

Auteur(s) :

Maazi, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the First International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization

Éditeur :

ESIGELEC & IRSEEM & University of Rouen, France

Date de publication :

2003

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL