Détermination des paramètres limitant la montée des MOSFETs sub-100nm

Type de document :

Communication dans un congrès avec actes

Titre :

Auteur(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Titre de l’ouvrage :

Actes des 13èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2003

Éditeur :

Institut d'Electronique, Microélectronique et Nanotechnologie, Villeneuve d'Ascq, France

Date de publication :

2003

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

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