Titre :

Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs

Auteur(s) :

Rengel, R. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gonzales, T. [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 17th International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2003

Éditeur :

Czech Noise Research Laboratory, Brno University of Technology, Czech Republic

Date de publication :

2003

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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