Titre :

Low frequency noise behaviour in GaN HEMT's on silicon substrate

Auteur(s) :

Bary, Laurent [Auteur]
Angeli, E. [Auteur]
Rennane, Abdelali [Auteur]
Soubercaze-Pun, Geoffroy [Auteur]
Tartarin, Jean-Guy [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cordier, Y. [Auteur]
Delage, S. [Auteur]
Plana, Robert [Auteur]
Graffeuil, Jacques [Auteur]

Date de début de la manifestation scientifique :

2004

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the SPIE - International Society for Optical Engineering, 5470

Éditeur :

SPIE – The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, USA

Date de publication :

2004

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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