Electronic properties of deep defects in ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Electronic properties of deep defects in n-type GaN
Author(s) :
Muret, P. [Auteur]
Ulzhöfer, C. [Auteur]
Pernot, J. [Auteur]
Cordier, Y. [Auteur]
Semond, F. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Ulzhöfer, C. [Auteur]
Pernot, J. [Auteur]
Cordier, Y. [Auteur]
Semond, F. [Auteur]
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Journal title :
Superlattices and Microstructures
Pages :
435-443
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2004
ISSN :
0749-6036
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :