Title :

Evaluation of residual stress profiles using the Barkhausen noise effect to verify high performance aerospace bearings

Author(s) :

Devaux, S. [Auteur]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Gualandrii, J. [Auteur]
Ouaftouch, Mohammadi [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ourak, Mohamed [Auteur]

Journal title :

NDT & E International

Pages :

9-24

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2005

ISSN :

0963-8695

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL