Title :

Combined master and Fokker–Planck equations for the modeling of the kinetics of extended defects in Si

Author(s) :

Lampin, E. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ortiz, C.J. [Auteur]
Cowerne, N.E.B. [Auteur]
Colombeau, B. [Auteur]
Cristiano, Fuccio [Auteur]

Journal title :

Solid-State Electronics

Pages :

1168-1171

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2005

ISSN :

0038-1101

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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