Titre :

Influence of gate offset spacer width on SOI MOSFETs HF properties

Auteur(s) :

Valentin, R. [Auteur]
Siligaris, A. [Auteur]
Pailloncy, G. [Auteur]
DUBOIS, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Danneville, François [Auteur]

Date de début de la manifestation scientifique :

2006

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 2006 IEEE Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems

Éditeur :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Date de publication :

2006

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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