Electric force microscopy of individually charged silicon nanoparticles

Melin, Thierry; Diesinger, Heinrich; Barbet, Sophie; Deresmes, D.; Baron., T.; Stiévenard, Didier

Type de document :

Communication dans un congrès avec actes

Titre :

Electric force microscopy of individually charged silicon nanoparticles

Auteur(s) :

Melin, Thierry [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Diesinger, Heinrich [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Barbet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Baron., T. [Auteur]
Stiévenard, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

Materials Research Society 2005 Fall Meeting

Ville :

Boston, MA

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2005-11-28

Date de publication :

2005

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

We report on charge injection experiments performed on single silicon nanoparticles and their analysis by Electric Force Microscopy (EFM). An analytical model is presented, enabling a quantitative determination of the ...
Lire la suite >We report on charge injection experiments performed on single silicon nanoparticles and their analysis by Electric Force Microscopy (EFM). An analytical model is presented, enabling a quantitative determination of the charge state of the semiconductor nanoparticles from EFM signals, for arbitrary tip and nanoparticle shapes. Experimentally, we provide an analysis of the capacitive and charge interactions taking place in EFM of silicon nanoparticles deposited on conductive substrates. We demonstrate that the weak image interactions associated with charged nanoparticles -of dipole-dipole type- can be identified from a spectroscopic EFM analysis. Finally, we address the issue of the charge injection mechanisms. From the hysteretic behaviour of the charge injection spectroscopy, we separate volume versus surface charge effects. We show that charges are mostly injected in the nanoparticle volume, with however some residual injection on the nanoparticle surface. Mechanisms of the charge saturation are discussed.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

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