Title :

Fowler-Nordheim tunnelling and electrically stressed breakdown of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane self-assembled monolayers

Author(s) :

Aswal, D. K. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Yakhmi, J. V. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

Nanotechnology

Pages :

3064-3068

Publisher :

Institute of Physics

Publication date :

2005

ISSN :

0957-4484

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL