Titre :

Full Wave Analysis and Electrical Modeling of Eight Copper Interconnects Placed in a Giga-Scale Integrated Environment for Signal Integrity Evaluation

Auteur(s) :

Ponchel, Freddy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Seguinot, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deschacht, Denis [Auteur]
Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques [SysMIC]

Titre de la manifestation scientifique :

ESTC: Electronics System-Integration Technology Conference

Ville :

Dresden

Pays :

Allemagne

Date de début de la manifestation scientifique :

2006-09-05

Titre de l’ouvrage :

1st Electronic Systemintegration Technology Conference

Date de publication :

2006

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Autre

Résumé en anglais : [en]

Signal integrity analysis on eight unintentionally coupled copper interconnects is derived from an equivalent distributed electrical multi-conductor cell. Compatible with SPICE environment, this elementary cell is calculated ...
Lire la suite >Signal integrity analysis on eight unintentionally coupled copper interconnects is derived from an equivalent distributed electrical multi-conductor cell. Compatible with SPICE environment, this elementary cell is calculated with a full wave analysis such as tangential vector finite element method and the transmission line theory. After R, L, C, G and mutual extraction, two types of excitation are implemented based on one aggressor and seven victims and vice versa in order to weigh the influence of parasitic mutual via crosstalk evaluation.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL