Croissance métamorphique par Epitaxie par ...
Document type :
Thèse
Title :
Croissance métamorphique par Epitaxie par Jets Moléculaires et caractérisations physiques pour Transistor Bipolaire à Hétérojonction InP/InGaAs sur GaAs
English title :
Metamorphic growth by Molecular Beam Epitaxy and physical characterizations for InP/InGaAs Heterojunction Bipolar Transistor on GaAs
Author(s) :
Lefebvre, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thesis director(s) :
Francis Mollot
Defence date :
2005-06-03
Jury president :
Ghislaine COULON (présidente)
Michel GENDRY (rapporteur)
Jean-Luc PELOUARD (rapporteur)
Francois ALEXANDRE (examinateur)
Yvon CORDIER (examinateur)
Mohammed ZAKNOUNE (examinateur)
Michel GENDRY (rapporteur)
Jean-Luc PELOUARD (rapporteur)
Francois ALEXANDRE (examinateur)
Yvon CORDIER (examinateur)
Mohammed ZAKNOUNE (examinateur)
Jury member(s) :
Ghislaine COULON (présidente)
Michel GENDRY (rapporteur)
Jean-Luc PELOUARD (rapporteur)
Francois ALEXANDRE (examinateur)
Yvon CORDIER (examinateur)
Mohammed ZAKNOUNE (examinateur)
Michel GENDRY (rapporteur)
Jean-Luc PELOUARD (rapporteur)
Francois ALEXANDRE (examinateur)
Yvon CORDIER (examinateur)
Mohammed ZAKNOUNE (examinateur)
Accredited body :
Université des Sciences et Technologie de Lille - Lille I
Doctoral school :
Sciences des Matériaux, du Rayonnement et de l'Environnement
Keyword(s) :
Epitaxie par Jets Moléculaires
III-V
cinétique des adatomes III
métamorphique
buffer GaAs-InP
buffer graduel
buffer uniforme
front de croissance
tilt
cross-hatch
Transistor Bipolaire à Hétérojonction
TBH
InP
InGaAs
béryllium
durée de vie électronique
III-V
cinétique des adatomes III
métamorphique
buffer GaAs-InP
buffer graduel
buffer uniforme
front de croissance
tilt
cross-hatch
Transistor Bipolaire à Hétérojonction
TBH
InP
InGaAs
béryllium
durée de vie électronique
English keyword(s) :
Molecular Beam Epitaxy
III adatoms kinetics
metamorphic
graded buffer layer
GBL
uniform buffer layer
UBL
growth front
Heterojunction Bipolar Transistor
HBT
electron lifetime
III adatoms kinetics
metamorphic
graded buffer layer
GBL
uniform buffer layer
UBL
growth front
Heterojunction Bipolar Transistor
HBT
electron lifetime
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
French abstract :
Les Transistors Bipolaires à Hétérojonction fonctionnent à hautes fréquences sous des tensions d'environ 5V, en particulier dans le système de matériaux InP/InGaAs. Il est souhaitable d'obtenir ces performances non pas sur ...
Show more >Les Transistors Bipolaires à Hétérojonction fonctionnent à hautes fréquences sous des tensions d'environ 5V, en particulier dans le système de matériaux InP/InGaAs. Il est souhaitable d'obtenir ces performances non pas sur InP mais sur GaAs, substrat plus robuste, disponible en taille supérieure et préféré en industrie. Un buffer métamorphique GaAs → InP est alors requis pour relaxer la contrainte due au désaccord de paramètre de maille. Cette thèse porte sur la croissance par Epitaxie par Jets Moléculaires de tels buffers et de TBH InP/InGaAs à base fortement dopée au béryllium. Les buffers sont évalués via un protocole expérimental dédié au TBH, associant des caractérisations «matériaux» (photoluminescence, Double Diffraction des rayons X, microscopies optique et à force atomique AFM) et électriques (diodes métamorphiques). Nous comparons ainsi les deux processus de relaxation possibles : avec introduction progressive de la contrainte sur buffer graduel In(Ga)AlAs, abrupte sur buffer uniforme InP. Le rôle de la cinétique des adatomes III en front de croissance sur le processus graduel est démontré. Les performances des TBH métamorphiques InP/InGaAs épitaxiés sur GaAs via un buffer graduel InGaAlAs sont au final proches de celles des TBH de référence sur InP.Show less >
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English abstract : [en]
Heterojunction Bipolar Transistors currently operate at high frequencies under voltage of approximately 5V, in particular in the InP/InGaAs materials system. It is desirable to obtain these performances on GaAs rather than ...
Show more >Heterojunction Bipolar Transistors currently operate at high frequencies under voltage of approximately 5V, in particular in the InP/InGaAs materials system. It is desirable to obtain these performances on GaAs rather than on InP substrates, because GaAs ones are more reliable, available in higher size and preferred in industry. A GaAs → InP metamorphic buffer is then required to relax the strain due to the lattice mismatch. This thesis deals with the growth by Molecular Beam Epitaxy of such buffers and of InP/InGaAs HBT with highly beryllium doped base. The buffers are evaluated thanks to an experimental protocol dedicated to HBT, which associates materials (photoluminescence, Double axis X-Ray Diffraction, optical and atomic force AFM microscopy) and electrical characterizations (metamorphic diodes). We thus compare the two possible relaxation processes : progressive strain introduction on InGaAlAs Graded Buffer Layer and abrupt strain introduction on InP Uniform Buffer Layer. The dependency of the graded process on the III adatoms kinetic on the growth front is demonstrated. The performances of metamorphic InP/InGaAs HBT grown on GaAs via an InGaAlAs GBL are finally close to those of the reference HBT on InP.Show less >
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Language :
Français
Comment :
Thesis available online from January 2006<br />Previously available on the website of the Epitaxy Team at IEMN<br />Transferred on http://tel.ccsd.cnrs.fr on May 21st, 2006 (for the new version of the website of the Epitaxy Team at IEMN)<br /><br />Author currently at the Department of Microtechnology and Nanoscience MC2<br />Chalmers University of Technology, Göteborg – SWEDEN<br /><br />Thèse disponible en ligne depuis Janvier 2006<br />Précédemment disponible sur le site web de l'Equipe Epitaxie de l'IEMN<br />Transférée sur http://tel.ccsd.cnrs.fr le 21 mai 2006 <br />(pour la nouvelle version du site web de l'Equipe Epitaxie de l'IEMN)
Source :
Files
- https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00070835/document
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