Titre :

Determination by indentation method of sputtered PZT films mechanical parameters for Si-MEMS applications

Auteur(s) :

Delobelle, Patrick [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Guillon, Olivier [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Fribourg-Blanc, E. [Auteur]
Soyer, Caroline [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Cattan, Eric [Auteur]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]

Date de début de la manifestation scientifique :

2004

Titre de l’ouvrage :

ISIF 2004

Titre de la revue :

Séoul, Corée

Date de publication :

2004

Discipline(s) HAL :

Physique [physics]/Mécanique [physics]/Mécanique des matériaux [physics.class-ph]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL