Title :

Effect of curvature on interfacial segregation: Electronic contribution to the point defect/interface binding energy

Author(s) :

Vasseur, Jérôme [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Acoustique - IEMN [ACOUSTIQUE - IEMN]
Deymier, P. [Auteur]

Journal title :

Interface Science

Pages :

147-152

Publisher :

Springer Verlag

Publication date :

1994-06

ISSN :

0927-7056

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Physique [physics]

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL