Title :

Lead-Free α-La2WO6 Ferroelectric Thin Films

Author(s) :

Carlier, Thomas [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Chambrier, Marie-Hélène [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Ferri, Anthony [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Estradé, Sonia [Auteur]
Micronanotecnologies i nanoscòpies per dispositius electrònics i fotònics [Spain] [LENS, MIND-IN2UB]
Blach, Jean-Francois [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Martín, Gemma [Auteur]
Micronanotecnologies i nanoscòpies per dispositius electrònics i fotònics [Spain] [LENS, MIND-IN2UB]
Meziane, Belkacem [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Peiró, Francesca [Auteur]
Micronanotecnologies i nanoscòpies per dispositius electrònics i fotònics [Spain] [LENS, MIND-IN2UB]
Roussel, Pascal [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]
Ponchel, Freddy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cornet, Albert [Auteur]
Micronanotecnologies i nanoscòpies per dispositius electrònics i fotònics [Spain] [LENS, MIND-IN2UB]
Desfeux, Rachel [Auteur]
Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 [UCCS]

Journal title :

ACS Applied Materials & Interfaces

Pages :

24409–24418

Publisher :

Washington, D.C. : American Chemical Society

Publication date :

2015-10

ISSN :

1944-8244

English keyword(s) :

ferroelectricity
high-resolution X-ray diffraction
piezoresponse force microscopy
pulsed laser deposition
transmission electron microscopy

HAL domain(s) :

Chimie/Chimie inorganique
Chimie/Cristallographie
Chimie/Matériaux

English abstract : [en]

(001)-Epitaxial La2WO6 (LWO) thin films are grown by pulsed laser deposition on (001)-oriented SrTiO3 (STO) substrates. The α-phase (high-temperature phase in bulk) is successfully stabilized with an orthorhombic structure ...
Show more >(001)-Epitaxial La2WO6 (LWO) thin films are grown by pulsed laser deposition on (001)-oriented SrTiO3 (STO) substrates. The α-phase (high-temperature phase in bulk) is successfully stabilized with an orthorhombic structure (a = 16.585(1) Å, b = 5.717(2) Å, c = 8.865(5) Å). X-ray-diffraction pole-figure measurements suggest that crystallographic relationships between the film and substrate are [100]LWO ∥ [110]STO, [010]LWO ∥ [11⋯0]STO and [001]LWO ∥ [001]STO. From optical properties, investigated by spectroscopic ellipsometry, we extract a refractive-index value around 2 (at 500 nm) along with the presence of two absorption bands situated, respectively at 3.07 and 6.32 eV. Ferroelectricity is evidenced as well on macroscale (standard polarization measurements) as on nanoscale, calling for experiments based on piezo-response force-microscopy, and confirmed with in situ scanning-and-tunneling measurements performed with a transmission electron microscope. This work highlights the ferroelectric behavior, at room temperature, in high-temperature LWO phase when stabilized in thin film and opens the way to new functional oxide thin films dedicated to advanced electronic devices.Show less >

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL