Noise analysis in devices under nonlinear ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
10.1016/S0038-1101(98)00261-5
Titre :
Noise analysis in devices under nonlinear operation
Auteur(s) :
Cappy, Alain [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, François [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Tamen, Beaudouin [Auteur]
Titre de la revue :
Solid-State Electronics
Pagination :
21-26
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
1999-01
ISSN :
0038-1101
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Fichiers
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