Investigation on GaN channel thickness ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Investigation on GaN channel thickness downscaling in high electron mobility transistor structures grown on AlN bulk substrate
Auteur(s) :
Elwaradi, Reda [Auteur]
Bougerol, C. [Auteur]
Nanophysique et Semiconducteurs [NEEL - NPSC]
Mehta, Jash Rinku [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nemoz, Maud [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Medjdoub, Farid [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Bougerol, C. [Auteur]
Nanophysique et Semiconducteurs [NEEL - NPSC]
Mehta, Jash Rinku [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nemoz, Maud [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Medjdoub, Farid [Auteur]

WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Titre de la manifestation scientifique :
WOCSDICE EXMATEC 2022
Ville :
Ponta Delgada
Pays :
Portugal
Date de début de la manifestation scientifique :
2022-05-03
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Source :