Titre :

Measurement of a flat lens focusing in a 2D photonic crystal at optical wavelength

Auteur(s) :

Fabre, N. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lalouat, L. [Auteur]
Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne [ICB]
Cluzel, B. [Auteur]
Institut FRESNEL [FRESNEL]
Melique, Xavier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, D. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
de Fornel, F. [Auteur]
Laboratoire de Physique de l'Université de Bourgogne [LPUB]
Vanbesien, Olivier [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

2008 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)

Ville :

San Jose

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2008-05-04

Éditeur :

IEEE

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL