Measurement of a flat lens focusing in a ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Measurement of a flat lens focusing in a 2D photonic crystal at optical wavelength
Author(s) :
Fabre, N. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lalouat, L. [Auteur]
Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne [ICB]
Cluzel, B. [Auteur]
Institut FRESNEL [FRESNEL]
Melique, X. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, D. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
de Fornel, F. [Auteur]
Laboratoire de Physique de l'Université de Bourgogne [LPUB]
Vanbesien, O. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lalouat, L. [Auteur]
Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne [ICB]
Cluzel, B. [Auteur]
Institut FRESNEL [FRESNEL]
Melique, X. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, D. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
de Fornel, F. [Auteur]
Laboratoire de Physique de l'Université de Bourgogne [LPUB]
Vanbesien, O. [Auteur]
Dispostifs Opto et Micro Electronique - IEMN [DOME - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
2008 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)
City :
San Jose
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2008-05-04
Publisher :
IEEE
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :