Titre :

Accurate two-dimensional process-device simulations for the analysis of punchthrough in walled emitter bipolar transistor

Auteur(s) :

Dubois, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]
Baccus, B. [Auteur]
Collard, Dominique [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

Proc. of NASECODE VI conference, Ed. J.J.H. Miller, Boole Press

Ville :

Dublin

Pays :

Irlande

Date de début de la manifestation scientifique :

1989-06

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL