From Noise analysis to Error Bars on ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
From Noise analysis to Error Bars on Refractive Index In THz-TDS
Author(s) :
Osseiran, Noureddin [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bichon, Jeyan [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Physicochimie des Processus de Combustion et de l’Atmosphère - UMR 8522 [PC2A]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Raj, Aditya [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hannotte, Théo [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Peretti, Romain [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bichon, Jeyan [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Physicochimie des Processus de Combustion et de l’Atmosphère - UMR 8522 [PC2A]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Raj, Aditya [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hannotte, Théo [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Eliet, Sophie [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Peretti, Romain [Auteur]

Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
48th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
City :
Montreal
Country :
Canada
Start date of the conference :
2023-09-17
Publisher :
IEEE
English keyword(s) :
Terahertz Time-Domain Spectroscopy THz-TDS
HAL domain(s) :
Physique [physics]
English abstract : [en]
We present a new methodology for computing error bars in THz-TDS experiments and distribute open source software for this purpose. Pursuing our efforts in noise analysis and data processing of THz-TDS experiments, we ...
Show more >We present a new methodology for computing error bars in THz-TDS experiments and distribute open source software for this purpose. Pursuing our efforts in noise analysis and data processing of THz-TDS experiments, we followed a standard approach to derive the error bars from the simplest quantities coming from the experiments (transmission, absorbance) and a Bayesian approach when using an optimization fitting methodology to retrieve the plotted magnitude (refractive indices).Show less >
Show more >We present a new methodology for computing error bars in THz-TDS experiments and distribute open source software for this purpose. Pursuing our efforts in noise analysis and data processing of THz-TDS experiments, we followed a standard approach to derive the error bars from the simplest quantities coming from the experiments (transmission, absorbance) and a Bayesian approach when using an optimization fitting methodology to retrieve the plotted magnitude (refractive indices).Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :
Files
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