Extending the analysis of EELS spectrum-imaging ...
Type de document :
Article dans une revue scientifique
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Titre :
Extending the analysis of EELS spectrum-imaging data, from elemental to bond mapping in complex nanostructures
Auteur(s) :
Arenal, R. [Auteur]
de la Peña, F. [Auteur]
Stéphan, O. [Auteur]
Walls, M. [Auteur]
Tencé, M. [Auteur]
Loiseau, A. [Auteur]
Colliex, C. [Auteur]
de la Peña, F. [Auteur]
Stéphan, O. [Auteur]
Walls, M. [Auteur]
Tencé, M. [Auteur]
Loiseau, A. [Auteur]
Colliex, C. [Auteur]
Titre de la revue :
Ultramicroscopy
Nom court de la revue :
Ultramicroscopy
Numéro :
109
Pagination :
32-38
Éditeur :
Elsevier BV
Date de publication :
2008-12
ISSN :
0304-3991
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
CNRS
INRAE
ENSCL
CNRS
INRAE
ENSCL
Collections :
Date de dépôt :
2024-02-01T14:13:27Z