Titre :

Méthodologie de test non-intrusive, générique et quasi-statique de circuits intégrés en bande millimétrique basée sur l'apprentissage automatique : application à un LNA 25 GHz

Auteur(s) :

Occello, Olivier [Auteur]
Reliable RF and Mixed-signal Systems [TIMA-RMS]
Margalef-Rovira, Marc [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Barragan, Manuel J. [Auteur]
Reliable RF and Mixed-signal Systems [TIMA-RMS]
Durand, Cedric [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Rhellab, Ayman [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Ferrari, Philippe [Auteur]
Reliable RF and Mixed-signal Systems [TIMA-RMS]

Titre de la manifestation scientifique :

XXIIIèmes Journées Nationales Microondes

Ville :

Antibes Juan-Les-Pins

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2024-06-04

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of JNM

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL