Bottom gated in-plane selective area grown ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
URL permanente :
Titre :
Bottom gated in-plane selective area grown InSb nanowires on GaAs(111)B
Auteur(s) :
Barbot, Clément [Auteur]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Berthe, Maxime [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deblock, Yves [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lan, Qianqian [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Thomas, L. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Capiod, Pierre [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Ebert, Philipp [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur correspondant]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Coinon, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Berthe, Maxime [Auteur]

Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deblock, Yves [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lan, Qianqian [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Okada, Etienne [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Thomas, L. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Capiod, Pierre [Auteur]

Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Ebert, Philipp [Auteur]
Forschungszentrum Jülich = Research Center Juelich [FZ Juelich]
Grandidier, Bruno [Auteur]

Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur correspondant]

EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
EuroMBE 2025 Conference
Organisateur(s) de la manifestation scientifique :
CRHEA
Ville :
Auron
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2025-03-10
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Projet ANR :
Source :
Date de dépôt :
2025-04-05T05:58:53Z