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Anomalous exponent in the kinetics of grain growth with anisotropic interfacial energy
Physical Review B, American Physical Society, 01-1997, 55; 1, 205-211Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Electronic band gaps in one-dimensional comb structures of simple metals
Journal of Physics: Condensed Matter, IOP Publishing, 12-10-1998, 10; 40, 8973-8981Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Electronic States and Luminescence in Porous Silicon Quantum Dots: The Role of Oxygen
Physical Review Letters, American Physical Society, 01-1999, 82; 1, 197-200Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
New III-V transducers for optical microwave and millimeter wave conversion
09-1997 -
Organic monolayers on Si(111) by electrochemical method
Electrochimica Acta, Elsevier, 06-1998, 43; 19-20, 2791-2798Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
[Stimulation of calcium intake by growth-hormone-releasing-hormone in GH3 cells].
Comptes rendus des séances de la Société de biologie et de ses filiales, 20-09-1991, 185; 4, 218-23Article dans une revue scientifique -
[Mechanisms of action of various neuropeptides on anterior pituitary cells. Electrophysiologic and microspectrofluorometric approach].
Annales d'Endocrinologie, Elsevier Masson, 20-09-1990, 51; 3-4, 130-2Article dans une revue scientifique -
Extraction method of the base series resistances in bipolar transistor in presence of current crowding
IEEE Journal of Solid-State Circuits, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 02-1996, 31; 1, 132-135Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Adaptive mesh refinement for multilayer process simulation using the finite element method
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE, 13-03-1992, 11; 3, 396-403Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Characterization of scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy-based techniques for nanolithography on hydrogen-passivated silicon
Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 15-08-1998, 84; 4, 1776-1781Compte-rendu et recension critique d'ouvrage