Titre :

Evolution de caractéristiques statiques de HEMTs AlGaN/GaN soumis à un stress électrique réalisé à différentes températures

Auteur(s) :

Boudart, B. [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Llibre, Jean-François [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Briand, D. [Auteur]
Tala-Ighil, Boubekeur [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Toutah, H. [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Guhel, Yannick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bougrioua, Zahia [Auteur]
Germain, Marianne [Auteur]
Moerman, Ingrid [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

13es Journées Nationales Microondes

Ville :

Lille

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2003

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL