Mechanical characterization of thin films and interfaces using the colored picosecond ultrasonic technique

Type de document :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Titre :

Auteur(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Le Louarn, A. [Auteur]
Emery, Patrick [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

5th Photovoltaic Technical Conference 'Thin Film and Advanced Silicon Solutions', PVTC 2014

Ville :

Aix-en-Provence

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2014

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

Mechanical characterization of thin films ... BibTeX CSV Excel RIS