Caractérisation de couches minces de ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Caractérisation de couches minces de matériaux polymères en vue de la réalisation de modulateurs électro-optiques
Auteur(s) :
Philippe Auguste, Kenny Robert [Auteur]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Halbwax, Mathieu [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Li, Hong Wu [Auteur]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Legier, Jean-François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Halbwax, Mathieu [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Paleczny, Erick [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Li, Hong Wu [Auteur]
Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique [IETR]
Titre de la manifestation scientifique :
12èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2012
Ville :
Chambéry
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2012
Titre de l’ouvrage :
Actes des 12èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2012
Date de publication :
2012
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :