Titre :

Characterization and analysis of different surface passivation for AlGaN/GaN HEMTs

Auteur(s) :

Lecourt, F. [Auteur]
Defrance, Nicolas [Auteur]
Rennesson, S. [Auteur]
Hoel, Virginie [Auteur]
Cordier, Y. [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012

Ville :

Porquerolles

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2012

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of 36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012

Date de publication :

2012

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL