Titre :

Transmission electron microscopy of misfit dislocation and strain relaxation in lattice mismatched III-V heterostructures versus substrate surface treatment

Auteur(s) :

Wang, Y. [Auteur]
Ruterana, P. [Auteur]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
El Kazzi, S. [Auteur]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

Materials Research Society Spring Meeting, MRS Spring 2011, Symposium D : Compound semiconductors for energy applications and environmental sustainability

Ville :

San Francisco, CA

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2011

Titre de l’ouvrage :

Materials Research Society Symposium Proceedings, 1324

Date de publication :

2011

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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