Carrier mobility in strained Ge nanowires
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Carrier mobility in strained Ge nanowires
Auteur(s) :
Niquet, Yann-Michel [Auteur]
Delerue, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Delerue, Christophe [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
084301-1-4
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2012
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00787437/document
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