Titre :

Electromagnetic modeling of SPP resonance for low noise RF magnitude modulation of optical carriers

Auteur(s) :

Tripon-Canseliet, Charlotte [Auteur]
Laboratoire d'Electronique et Electromagnétisme [L2E]
Faci, Salim [Auteur]
Laboratoire d'Electronique et Electromagnétisme [L2E]
Stolz, Arnaud [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Loiseau, Brigitte [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]
Delboulbe, Anne [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]
Huignard, Jean-Pierre [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]
Chazelas, Jean [Auteur]
THALES Airborne Systems [Elancourt]

Titre de la manifestation scientifique :

Conference Microwave Photonics (MWP) 2010

Ville :

Montréal (Quebec)

Pays :

Canada

Date de début de la manifestation scientifique :

2010-10-05

Éditeur :

_

Date de publication :

2010-12-10

Mot(s)-clé(s) en anglais :

Modulation
Optical films
Optical reflection
Optical surface waves
Reflectivity
Refractive index

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Electromagnétisme

Résumé en anglais : [en]

In this paper, light modulation efficiency using surface plasmon polariton (SPP) excitation in metal/electro-optic material interface is investigated by electromagnetic simulations. The propagation constant of the plasmon ...
Lire la suite >In this paper, light modulation efficiency using surface plasmon polariton (SPP) excitation in metal/electro-optic material interface is investigated by electromagnetic simulations. The propagation constant of the plasmon wave are controlled by an electric field applied across the electro-optic layer and thus modulates in magnitude the reflected light.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL