Scanning confocal Raman spectroscopy of ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Scanning confocal Raman spectroscopy of individual silicon nanowires
Auteur(s) :
Strelchuk, V.V. [Auteur]
Nikolenko, A.S. [Auteur]
Lytvyn, P.M. [Auteur]
Klimovskaya, A.I. [Auteur]
Pedchenko, Y.N. [Auteur]
Voroschenko, A.T. [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nikolenko, A.S. [Auteur]
Lytvyn, P.M. [Auteur]
Klimovskaya, A.I. [Auteur]
Pedchenko, Y.N. [Auteur]
Voroschenko, A.T. [Auteur]
Hourlier, Djamila [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium J : Silicon-based nanophotonics
Ville :
Strasbourg
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2010
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :