Croissance localisée, caractérisation ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium
Auteur(s) :
Xu, Tao [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Date de publication :
2009
Langue :
Français
Collections :
Source :
Harvested from HAL