Study of the hBN/InP interface by deep ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Study of the hBN/InP interface by deep level transient and photoluminescence spectroscopies
Auteur(s) :
Mattalah, M. [Auteur]
Telia, A. [Auteur]
Soltani, Ali [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thevenin, P. [Auteur]
Bath, A. [Auteur]
Akkal, B. [Auteur]
Abid, H. [Auteur]
Telia, A. [Auteur]
Soltani, Ali [Auteur]

De Jaeger, Jean-Claude [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thevenin, P. [Auteur]
Bath, A. [Auteur]
Akkal, B. [Auteur]
Abid, H. [Auteur]
Titre de la revue :
Thin Solid Films
Pagination :
4122-4127
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2008
ISSN :
0040-6090
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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