1/f tunnel current noise through Si-bound ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
1/f tunnel current noise through Si-bound alkyl monolayers
Auteur(s) :
Clément, Nicolas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pleutin, Stéphane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Seitz, Oliver [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stephane [Auteur] refId
Cahen, D. [Auteur]
Vuillaume, Dominique [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
European Materials Research Society Spring Meeting
Ville :
Strasbourg
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2007-05-28
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL