Titre :

Non invasive determination of temperature trajectories during a defrosting process using microwave radiometry

Auteur(s) :

Cresson, Pierre-Yves [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dubois, Luc [Auteur]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pribetich, J. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

IEEE MTT-S International Microwave Symposium

Ville :

Ville inconnue

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2007

Titre de l’ouvrage :

2007 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

Éditeur :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Date de publication :

2007

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL