Caractérisation de nanofils de Si par sonde atomique tomographique

Type de document :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Titre :

Auteur(s) :

Stievenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

10èmes Journées de la Matière Condensée

Ville :

Toulouse

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

2006

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

Caractérisation de nanofils de Si par sonde ... BibTeX CSV Excel RIS