Scanning tunneling microscopy based lithography in UHV

Type de document :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Titre :

Auteur(s) :

Nys, J.P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Melin, Thierry [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

5th MEL-ARI/NID Workshop

Ville :

Pise

Pays :

Italie

Date de début de la manifestation scientifique :

2000

Date de publication :

2000

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

Scanning tunneling microscopy based ... BibTeX CSV Excel RIS